Многофункциональный дифракционный анализатор Xrd дифрактометр

Характеристики товара

Вес

0-100 кг

Тип

Балансировочная машина

Дисплей

Игла

Гарантия

1 год

Контроль

Компьютерное управление

Модель №.

CY-7200

Код ТН ВЭД

9027500090

Настройка

Доступно

Спецификация

75см*65см*70см

Происхождение

Шаньдун

Фотомножитель

R306 и еще один тип

Класс точности

0.5

Метод загрузки

Динамическая нагрузка

Разрешение (Fwhm)

0.009 нм (при 313 нм)

Торговая марка

ЦИ ИЙО

Масса заготовки

<900кг

Источник питания

АС220В

Нагрузочный путь

Электронная нагрузка

Диапазон длин волн

175 нм ~ 800 нм

Максимальная ёмкость

>1000КН

Длина волны остановки

±0.001 нм

Транспортная упаковка

Картон

Производственная мощность

100

Послепродажное обслуживание

На протяжении жизни

Положение масляного цилиндра

Под

Подробное описание товара от поставщика

Многофункциональный дифракционный анализатор XRD

1. Профиль:
Он разработан для коммерческих процессов и контроля качества. Это концентрация передовых технологий производства XRD, с многофункциональностью и миниатюризацией. Может выполнять качественный анализ, количественный анализ и анализ кристаллической структуры на металлических и неметаллических образцах, особенно для катализа, диоксида титана, цемента и фармацевтической промышленности.

2. Производительность оборудования:

1. Генератор рентгеновских лучей с высокой частотой и высоким напряжением обладает большей стабильностью, гарантируя повторяемость данных.
2. Гониометр с сервоприводом и технологией управления с помощью оптического кодера позволяет более плавно вращать гониометр, более точно измерять угол дифракции и улучшать линейность. В пределах диапазона угла дифракции линейность дифракции <0,02.
3. Защитное устройство для рассеянных лучей более безопасно и надежно. При измерении образцов защитная дверь автоматически блокируется, чтобы избежать радиации для людей.
4. CY-7200XRD использует самые современные металлические керамические рентгеновские трубки, что обеспечивает длительный срок службы (3000 часов).
5. Компактная структура может быть установлена на платформу без специальной лабораторной среды. Удобна в эксплуатации и обслуживании.

3. Применение:
CY-7200XRD может выполнять качественный и количественный анализ поликристаллического материала. Во время качественного анализа он будет идентифицировать неизвестную структуру, сравнивая измеренные данные с известной базой данных фаз. Во время количественного анализа он может описать характеристики твердой смеси, чтобы подтвердить относительное содержание кристаллических соединений или некристаллической фазы.

Измерение содержания асбеста в смеси с CY-7200

Анализ структуры нуклеотидного аналога лекарства с CY-7200

4. Параметры:

Сервисный рейтинг (напряжение трубки, ток трубки)	600W (40kV, 15mA) Стабильность: 0,005%
Рентгеновская трубка	Металлическая керамическая трубка, мишень Cu, мощность 2,4 кВт, размер фокуса: 1 x 10 мм;
Гониометр	θs-θd, радиус дифракции 150 мм
Метод измерения	Непрерывный, ступенчатый, Омик
Диапазон измерения угла	В течение времени утечки, θs/θd от -3° до 150°.
Минимальная ширина шага	0,0001°
Повторяемость угла	0,0001°
Режим привода	Привод с сервомотором + технология управления с помощью оптического кодера
Скорость позиционирования угла	1500°/мин
Счетчик	Закрытый пропорциональный детектор
Разрешение энергетического спектра	<25%
Макс. линейная скорость считывания	≥5×105cps (пропорциональный)
Компьютер	Ноутбук Dell
Программное обеспечение	Программное обеспечение управления, Windows 10; управление напряжением трубки, током трубки, затвором рентгеновского генератора и автоматическое выполнение тренировки по старению; управление гониометром непрерывным или ступенчатым сканированием и сбором данных дифракции; выполнение рутинной обработки: автоматический поиск пиков, ручной поиск пиков, интегрированная интенсивность, высота пика, ядро, вычитание фона, сглаживание, увеличение формы пика и сравнение спектрограммы и т. д.
Программное обеспечение обработки данных	Качественный и количественный анализ фаз материалов, отсечение Kα1, α2, полное спектральное соответствие, подгонка пиков, полуширина и расчет размера зерна, измерение кристаллической ячейки, расчет напряжения второго рода, индексация линий дифракции, множественное построение, 3D построение, калибровка данных дифракции, вычитание фона, количественный анализ без стандартов, полное спектральное соответствие изображения (WPF), имитация изображения дифракции XRD и т. д.
Защита от рассеянной радиации	Защита свинцом + защитное стекло, соединение затворных окон и защитных ограждений, доза рассеянной радиации не превышает 1μSv/h.
Комплексная регулировка прибора	≤1‰
Общие габариты	640×530×770 (ш×г×в) мм

5. Стандартный список конфигураций CY-7200XRD:

Часть	Название элемента	Единица	Кол-во	Примечание
Генератор рентгеновских лучей	Генератор рентгеновских лучей XRD40*600 высокой частоты	комплект	1	Твердая технология
Кабель высокого напряжения X27.06 (100kVP)	штука	1	Длина: 2,0 метра
Трубка 3311	комплект	1
Стенд X25.02 (металлический корпус)	штука	1	Защита свинцом + защитное стекло
AS2910/24 металлическая керамическая изоляционная рентгеновская трубка	штука	1	Мишень Cu, 2,4 кВт
Система гониометра	Гониометр AG-3511	комплект	1	Структура θ-θ
Щелевая и порошковая держатель образцов	штука	1	1 комплект для каждого
Образец с проемом	штука	5	Алюминиевый матрица
Образец с незакрытым отверстием	штука	10	Кварцевая матрица
Фильтр	штука	1	Соответствует целевому материалу
Щелевая пластина и системы регулировки освещения	комплект	1
Записывающая и управляющая система	Закрытый пропорциональный детектор	комплект	1	Включает соединительные кабели
Записывающее и управляющее устройство	комплект	1
Кабель мотора и связи	штука	1	2 кабеля мотора, 1 кабель связи
Блок питания	комплект	1
Система ПК	Ноутбук DELL Business	комплект	1	DELL
Контрольная система и программное обеспечение	Программное обеспечение для управления дифрактометром серии AL	комплект	1	Windows 10
Программное обеспечение для обработки данных и применения	комплект	1	Jade 6
База данных дифракционных карточек	комплект	1	PDF2
База данных кристаллической структуры	комплект	1	ICSD
Техническая документация	Руководство пользователя серии AL XRD	экземпляр	1
Запасные части	Предохранители 1,1.5,2,2.5,3,3+(A)	штука	10	10 штук для каждого
Инструменты	комплект	1
Агатная ступка ф100мм	штука	1

Рентгеновский дифрактометр анализирует натуральные или синтетические неорганические или органические материалы, широко используется в области глинистых минералов, цемента, строительных материалов, околоземного пыли, химических продуктов, фармацевтики, асбеста, горных пород, исследований полимеров.
Оптический дизайн на основе геометрии θ-θ облегчает подготовку образцов и установку различных аксессуаров. Применение металлической керамической рентгеновской трубки значительно увеличивает мощность работы дифрактометра. Закрытый пропорциональный счетчик является надежным и беспроблемным в обслуживании.
Детектор силиконовых сдвигов, с превосходным угловым и энергетическим разрешением, обеспечивает увеличение скорости измерения более чем в 3 раза. Разнообразные аксессуары дифрактометра удовлетворяют различным аналитическим потребностям. Модульный дизайн, известный как компоненты 'вставь и используй', позволяет операторам точно использовать соответствующие принадлежности дифрактометра, без необходимости расчета оптической системы.

Оптическая система конвертера
Структура щели Sola может быть изменена без необходимости разбирать корпус щели Sola. Из-за этой особенности инструмент может достичь конвертации между фокусной оптической системой и горизонтальной оптической системой без необходимости перенастройки.

Программное обеспечение для обработки данных включает в себя следующие функции

• Основные функции обработки данных (поиск пиков, сглаживание, вычитание фона, подгонка формы пика, увеличение формы пика, сравнение спектров, отсечение Kα1, α2, индексация линий дифракции);
• Быстрый количественный анализ нестандартных образцов;
• Измерение размера кристаллов;
• Анализ кристаллической структуры (измерение и уточнение параметров кристаллической ячейки);
• Макроскопические и микроскопические измерения напряжений;
• Двумерное и трехмерное отображение нескольких графиков;
• Кластерный анализ графиков дифракционных пиков;
• Калибровочная кривая полуширины данных дифракции;
• Кривая коррекции угловых отклонений для отклоненных данных;
• Количественный анализ на основе метода Ритвельда;
• Использование базы данных lCDD или пользовательской базы данных для качественного анализа фаз;
• Использование базы данных ICDD или ICSD для количественного анализа.

Наши Преимущества

Часто задаваемые вопросы