Высокоточный рентгеновский дифрактометр для металлов

Характеристики товара

Вес

0-100 кг

Тип

Балансировочная машина

Дисплей

Игла

Гарантия

1 год

Контроль

Компьютерное управление

Модель №.

CY-7200

Код ТН ВЭД

9027500090

Настройка

Доступно

Спецификация

75см*65см*70см

Происхождение

Шаньдун

Фотомножитель

R306 и еще один тип

Класс точности

0.5

Метод загрузки

Динамическая нагрузка

Разрешение (Fwhm)

0.009 нм (при 313 нм)

Торговая марка

ЦИ ИЙО

Масса заготовки

<900кг

Источник питания

АС220В

Нагрузочный путь

Электронная нагрузка

Диапазон длин волн

175 нм ~ 800 нм

Максимальная ёмкость

>1000КН

Длина волны остановки

±0.001 нм

Транспортная упаковка

Картон

Производственная мощность

100

Послепродажное обслуживание

На протяжении жизни

Положение масляного цилиндра

Под

Подробное описание товара от поставщика

Лазерный дифрактометр с высокой точностью для металлических материалов

1. Профиль:
Прибор предназначен для коммерческого процесса и контроля качества. Это концентрация передовых технологий производства рентгеновских дифрактометров, обладающая многофункциональностью и миниатюризацией. Прибор может выполнять качественный анализ, количественный анализ и анализ кристаллической структуры как металлических, так и неметаллических образцов, особенно в отраслях катализа, диоксида титана, цемента и фармацевтики.

2. Производительность оборудования:

1. Генератор рентгеновского излучения с высокой частотой и высоким напряжением обладает большей стабильностью, что гарантирует повторяемость данных.
2. Гониометр с сервоприводом и управлением с помощью оптического кодировщика обеспечивает более плавный ход, более точные измерения дифракционного угла и лучшую линейность. В диапазоне углов дифракции линейность дифракции <0,02.
3. Устройство защиты от рассеянного рентгеновского излучения более безопасно и надежно. При измерении образцов защитная дверь автоматически блокируется, чтобы избежать радиации для человека.
4. CY-7200XRD использует самый современный металлический керамический рентгеновский трубку с продолжительным сроком службы (3000 часов).
5. Компактная структура может быть установлена на платформе без специальной лабораторной среды. Установка и обслуживание просты.

3. Применение:
CY-7200XRD может выполнять качественный и количественный анализ поликристаллических материалов. В ходе качественного анализа будет определяться неизвестная структура путем сопоставления измеренных данных с известной фазой из базы данных. Во время количественного анализа можно описать характеристики твердой смеси, подтвердив относительное содержание кристаллических соединений или некристаллизованной фазы.

Определение содержания асбеста в смеси с помощью CY-7200

Анализ структуры нуклеотидных аналогов лекарств с помощью CY-7200

4. Параметры:

Название сервиса (напряжение трубки, ток трубки)	600 Вт (40 кВ, 15 мА) Стабильность: 0,005%
Рентгеновская трубка	Металло-керамическая рентгеновская трубка, Cu мишень, Мощность 2,4 кВт, Размер фокуса: 1 x 10 мм;
Гониометр	θs-θd, радиус дифракции 150 мм
Метод измерения	Непрерывный, с шагами, Оmg
Диапазон угловых измерений	В течение времени утечки, θs/θd составляет -3°~150°.
Минимальная ширина шага	0,0001°
Угловая воспроизводимость	0,0001°
Режим привода	Сервопривод + управление с помощью оптического кодировщика
Скорость позиционирования угла	1500°/мин
Счетчик	Закрытый пропорциональный детектор
Разрешение энергетического спектра	<25%
Макс. линейная скорость счета	≥5×10^5cps (пропорционально)
Компьютер	Ноутбук Dell
Программное обеспечение	Управляющее программное обеспечение
Программное обеспечение для обработки данных	Качественный и количественный анализ фаз материалов, сведение Kα1,α2, полное спектральное подгонка, подгонка пиков, расчет половины ширины и размера кристаллов, измерение кристаллической ячейки, расчет напряжения второго рода, индексирование дифракционных линий, множественное построение графиков, 3D построение, калибровка данных дифракции, вычитание фона, количественный анализ без стандартов, полное спектральное изображение подгонка (WPF), симуляция дифракционного изображения XRD и т. д.
Защита от рассеянного излучения	Защита свинцом и свинцовым стеклом, связь заслонок и защитной двери, рассеянная радиация не превышает 1 мкЗв/ч.
Комплексная регулировка прибора	≤1‰
Общие размеры	640×530×770 (ш×г×в) мм

5. Стандартный список конфигурации CY-7200XRD:

Часть	Название элемента	Единица	Кол-во	Примечание
Рентгеновский генератор высокого напряжения	Генератор XRD40*600 с высокой частотой	комплект	1	Твердая технология
Высоковольтный кабель X27.06 (100 кВ)	деталь	1	Длина: 2.0 метра
Трубка 3311	комплект	1
Платформа X25.02 (металлич. оболочка)	деталь	1	Защита свинцом и свинцовым стеклом
Рентгеновская трубка AS2910/24 (металло-керамическая изоляция)	деталь	1	Cu мишень, 2.4 кВт
Система гониометра	Гониометр AG-3511	комплект	1	Структура θ-θ
Щель и подставка для порошка	деталь	1	1 комплект для каждой
Пластина образца со сквозным отверстием	деталь	5	Алюминиевый матрица
Пластина образца с слепым отверстием	деталь	10	Кварцевая матрица
Фильтр	деталь	1	Совпадает с целевым материалом
Пластина щели и принадлежности для корректировки системы освещения	комплект	1
Система записи и управления	Закрытый пропорциональный детектор	комплект	1	Включает соединительный кабель
Блок записи и управления	комплект	1
Кабель мотора и связи	деталь	1	2 кабеля мотора, 1 кабель связи
Блок питания	комплект	1
Система ПК	Ноутбук DELL	комплект	1	DELL
Контрольная система и прикладное программное обеспечение	Программное обеспечение управления дифрактометром серии AL	комплект	1	Windows10
Программное обеспечение для обработки данных и приложений	комплект	1	Jade 6
База данных карточек данных дифракции	комплект	1	PDF2
База данных кристаллической структуры	комплект	1	ICSD
Технические документы	Руководство пользователя серии AL XRD	копия	1
Запчасти	Предохранители 1, 1.5, 2, 2.5, 3, 3+(A)	деталь	10	10 штук для каждой
Инструменты	комплект	1
Агатовая ступа ф100мм	деталь	1

Рентгеновский дифрактометр анализирует натуральные или синтетические неорганические или органические материалы, широко используется в области глинистых минералов, цемента, строительных материалов, загрязнений окружающей среды, химических продуктов, фармацевтики, асбеста, горных пород, исследований полимеров.
Оптический дизайн на основе геометрии θ-θ облегчает подготовку образцов и установку различных аксессуаров. Применение металлической керамической рентгеновской трубки значительно увеличило мощность работы дифрактометра. Закрытый пропорциональный счетчик долговечен и не требует обслуживания.
Силиконовый детектор, обладающий превосходным угловым разрешением и разрешением по энергии, позволяет увеличить скорость измерения более чем в 3 раза. Разнообразные аксессуары для дифрактометра отвечают различным аналитическим потребностям. Модульный дизайн, известный как компоненты “включи и работай”, позволяет операторам точно использовать соответствующие насадки дифрактометра без необходимости расчета оптической системы.

Оптический конвертер системы
Структура слота Sola может быть изменена без необходимости разбирать корпус слота Sola. Благодаря этой особенности прибор может без необходимости перенастройки достичь конвертации между фокусированной оптической системой и горизонтальной оптической системой.

Программное обеспечение для обработки данных включает следующие функции:

Основные функции обработки данных (поиск пиков, сглаживание, вычитание фона, подгонка формы пика, увеличение формы пика, сравнение спектров, сведение Kα1, α2, индексирование дифракционных линий);
Быстрый количественный анализ нестандартных образцов
Измерение размера кристаллов
Анализ кристаллической структуры (измерение параметров кристаллической ячейки и уточнение)
Макроскопические и микроскопические измерения напряжений
Двухмерное и трехмерное отображение множественного построения графиков
Кластерный анализ рисунков дифракционных пиков
Калибровочный график для полуширины данных дифракции
График коррекции углового отклонения данных отклонения
Конвенциональный количественный анализ по методу Ритвелда
Используйте базу данных lCDD или пользовательскую базу данных для качественного анализа фаз
Используйте базу данных ICDD или ICSD для количественного анализа

Наши преимущества

Вопросы и ответы