Цена в Китае: от 4 357 500 ₽
Поставщик: Цинань Сиейо Инструменты ООО
Анализаторное оборудование Анализатор спектра Лабораторный анализатор Химический анализатор Анализатор серы Анализатор данных Программное обеспечение для анализа Жидкостный анализатор Частотный анализатор
1. Профиль: Он предназначен для коммерческого процесса и контроля качества. Это концентрация передовых технологий производства XRD, с многофункциональностью и миниатюризацией. Он может выполнять качественный анализ, количественный анализ и анализ кристаллической структуры на металлических и неметаллических образцах, особенно в отраслях катализа, диоксида титана, цемента и фармацевтики.
2. Параметры оборудования:
3. Применение: CY-7200XRD может проводить качественный и количественный анализ поли-кристаллических материалов. В ходе качественного анализа он определит неизвестную структуру, сравнивая измеренные данные с известными данными базы фаз. При количественном анализе он может описывать характеристики твердой смеси, чтобы подтвердить относительное содержание кристаллических соединений или некристаллизованных фаз.
Измерение содержания асбеста в смеси с помощью CY-7200
Анализ структуры нуклеотидного аналогового лекарства с помощью CY-7200
4. Параметры:
Параметры | Описание |
---|---|
Рейтинг мощности | 600W (40kV, 15mA) Стабильность: 0.005% |
Рентгеновская трубка | Металлическая керамическая рентгеновская трубка, Cu мишень, Мощность 2.4kW, Размер фокуса: 1 x 10 мм |
Гониометр | θs-θd, дифракционный радиус 150 мм |
Метод измерения | Непрерывный, шаговый, Омг |
Диапазон углового измерения | Время утечки, θs/θd от -3° до 150°. |
Минимальная ширина шага | 0.0001° |
Угловая воспроизводимость | 0.0001° |
Режим привода | Привод на сервомоторе + контроль оптического энкодера |
Скорость позиционирования угла | 1500°/мин |
Счетчик | Закрытый пропорциональный детектор |
Разрешение по энергетическому спектру | <25% |
Макс. линейная скорость подсчета | ≥5×105cps (пропорционально) |
Компьютер | Ноутбук Dell |
Программное обеспечение | Контролирующее ПО |
Программное обеспечение для обработки данных | Качественный и количественный анализ фаз материалов, снятие Kα1,α2, полное спектральное соответствие, подгонка пика, расчет полуширины и размера зерна, измерение кристаллической ячейки, расчет второго рода напряжения, индексирование дифракционных линий, множественная графика, 3D графика, калибровка дифракционных данных, вычитание фона, количественный анализ без стандартов, полное спектральное изображение (WPF), моделирование дифракционного изображения XRD и др. |
Защита от рассеянного излучения | Защита из свинца + защитное стекло, затворные окна и защитные ограждения связаны, уровень рассеянного радиации не превышает 1μSv/ч. |
Общая настройка инструмента | ≤1‰ |
Габаритные размеры | 640×530×770 (ш×г×в) мм |
5. Стандартный перечень конфигурации CY-7200XRD:
Часть | Наименование элемента | Единица | Кол-во | Примечание |
---|---|---|---|---|
Генератор высокого напряжения X-ray | ВЧ высокий частотный генератор XRD40*600 | комплект | 1 | Технология |
X27.06 высоковольтный кабель (100kVP) | шт. | 1 | Длина: 2.0 метра | |
3311 трубный зажим | комплект | 1 | ||
X25.02 платформа (металлический корпус) | шт. | 1 | Защита свинца + защитное стекло | |
AS2910/24 метало-керамическая изоляция рентгеновская трубка | шт. | 1 | Cu мишень, 2.4kW | |
Система гониометра | Гониометр AG-3511 | комплект | 1 | Структура θ-θ |
Зазор и держатель образца | шт. | 1 | 1 комплект на каждую | |
Пробная плита с отверстием | шт. | 5 | Алюминиевый матрица | |
Пробная плита с закрытым отверстием | шт. | 10 | Кварцевая матрица | |
Фильтр | шт. | 1 | Соответствует целевому материалу | |
Аксессуары для регулировки зазорной пластины и освещения | комплект | 1 | ||
Система записи и управления | Закрытый пропорциональный детектор | комплект | 1 | Включая соединительный кабель |
Блок записи и управления | комплект | 1 | ||
Кабель для мотора и связи | шт. | 1 | 2 кабеля мотора, 1 кабель связи | |
Блок питания | комплект | 1 | ||
Системы ПК | Бизнес-ноутбук DELL | комплект | 1 | DELL |
Системное управление и прикладное ПО | Программное обеспечение для управления дифрактометром AL Series | комплект | 1 | Windows10 |
Программное обеспечение для обработки данных | комплект | 1 | Jade 6 | |
База данных дифракционных данных | комплект | 1 | PDF2 | |
База данных кристаллической структуры | комплект | 1 | ICSD | |
Техническая документация | Руководство пользователя серий XRD AL | копия | 1 | |
Запасные части | Предохранители 1, 1.5, 2, 2.5, 3, 3+(A) | шт. | 10 | 10 штук на каждого |
Инструменты | комплект | 1 | ||
Агатовая ступка ф100 мм | шт. | 1 |
Рентгеновский дифрактометр анализирует природные или синтетические неорганические или органические материалы, широко используется в области глинистых минералов, цемента, строительных материалов, экологической пыли, химической продукции, фармацевтики, асбеста, горных пород, исследований полимеров.
Оптический дизайн на основе геометрии θ-θ обеспечивает легкость подготовки образцов и установки различных аксессуаров. Применение металлической керамической рентгеновской трубки значительно увеличивает рабочую мощность дифрактометра. Закрытый пропорциональный счетчик долговечен и не требует обслуживания.
Детектор с кремниевым дрейфом, с превосходным угловым и энергетическим разрешением, позволяет увеличить скорость измерения более чем в 3 раза. Различные аксессуары дифрактометра отвечают различным аналитическим потребностям. Модульный дизайн, известный как компоненты «вставь и работай», позволяет операторам точно использовать соответствующие приспособления дифрактометра, не требуя расчетов оптической системы.
Базовые функции обработки данных (поиск пиков, сглаживание, вычитание фона, подгонка формы пиков, увеличение формы пиков, сравнение спектров, снятие Kα1, α2, индексирование дифракционных линий); Быстрый количественный анализ нестандартных образцов; Измерение размера кристаллов; Анализ кристаллической структуры (измерение и уточнение параметров кристаллической ячейки); Измерения макрострессов и микрострессов; Двумерное и трехмерное отображение множественной графики; Кластерный анализ графиков дифракционных пиков; Калибровка кривой ширины полупика дифракционных данных; Исправление углового отклонения по кривой отклонения данных; Конвенциональный количественный анализ на основе Ритвелда; Использование базы данных lCDD или пользовательской базы данных для выполнения качественного анализа фаз; Использование базы данных ICDD или базы данных ICSD для выполнения количественного анализа.
Наши Преимущества
Часто задаваемые вопросы