Цена в Китае: от 4 357 500 ₽
Поставщик: Цинань Сиейо Инструменты ООО
Анализаторное оборудование Анализатор спектра Лабораторный анализатор Химический анализатор Анализатор серы Анализатор данных Программное обеспечение для анализа Жидкостный анализатор Частотный анализатор
1. Профиль:
Он предназначен для коммерческих процессов и контроля качества. Это концентрация передовых технологий производства XRD, с многофункциональностью и миниатюризацией. Он может выполнять качественный анализ, количественный анализ и анализ кристаллической структуры на металлических и неметаллических образцах, особенно в отраслях катализаторов, диоксид титана, цемент и фармацевтика.
2. Производительность оборудования:
3. Применение:
CY-7200XRD может выполнять качественный и количественный анализ поликристаллического материала. В процессе качественного анализа он будет идентифицировать неизвестную структуру, сравнивая измеренные данные с известной фазой в базе данных. В процессе количественного анализа он может описать характеристики твердой смеси, чтобы подтвердить относительное содержание кристаллических соединений или некристаллизованной фазы.
Измерение содержания асбеста в смеси с помощью CY-7200
Анализ структуры нуклеотидного аналогового лекарства с помощью CY-7200
4. Параметры:
Обслуживаемый рейтинг (напряжение трубки, ток трубки) | 600W(40kV,15mA) Стабильность:0.005% |
---|---|
Рентгеновская трубка | Металлическая керамическая рентгеновская трубка, Cu мишень, Мощность 2.4kW, Размер фокуса: 1 x 10 мм; |
Гониометр | θs-θd, радиус дифракции 150 мм |
Метод измерения | Непрерывный, шаговый, Омг |
Диапазон измеряемого угла | В течение времени утечки, θs/θd от -3° до 150°. |
Минимальная ширина шага | 0.0001° |
Угловая воспроизводимость | 0.0001° |
Режим привода | Сервомоторный привод + технология управления оптическим энкодером |
Скорость позиционирования угла | 1500°/мин |
Счетчик | Закрытый пропорциональный детектор |
Энергетическая спектроскопическая разрешающая способность | <25% |
Макс. линейная скорость считывания | ≥5×10^5cps (пропорциональный) |
Компьютер | Ноутбук Dell |
Программное обеспечение | Программное обеспечение управления |
Программное обеспечение для обработки данных | Качественный и количественный анализ фаз материалов, распознавание Kα1, α2, полное спектральное аппроксимирование, аппроксимирование пиков, полуширина и расчет размера зерна, измерение кристаллической ячейки, расчет напряжений второго рода, индексация дифракционных линий, множественное построение, 3D-построение, калибровка данных дифракции, вычитание фона, количественный анализ без стандартов, аппроксимация полного спектра (WPF), симуляция изображения дифракции XRD и т. д. |
Защита от рассеянного излучения | Защита из свинца + свинцового стекла, затворные окна и связывающее устройство защиты, доза рассеянного излучения не превышает 1μSv/ч. |
Комплексное регулирование прибора | ≤1‰ |
Габаритные размеры | 640×530×770 (ш×г×в) мм |
5. Стандартный список конфигурации CY-7200XRD:
Часть | Наименование элемента | Единица | Кол-во | Примечание |
---|---|---|---|---|
Генератор рентгеновских лучей с высоким напряжением | Рентгеновский генератор XRD40*600 высокочастотный | комплект | 1 | Твердая технология |
Кабель высокого напряжения X27.06 (100kVP) | шт. | 1 | Длина: 2.0 метра | |
3311 трубная втулка | комплект | 1 | ||
Платформа X25.02 (металлическая оболочка) | шт. | 1 | Защита свинцом + свинцовым стеклом | |
Рентгеновская трубка AS2910/24 | шт. | 1 | Cu мишень, 2.4kW | |
Гониометрическая система | Гониометр AG-3511 | комплект | 1 | Структура θ-θ |
Щель и держатель порошкового образца | шт. | 1 | 1 комплект на каждый | |
Пластина для образцов с проходным отверстием | шт. | 5 | Алюминиевый матрица | |
Пластина для образцов с закрытым отверстием | шт. | 10 | Кварцевая матрица | |
Фильтр | шт. | 1 | Соответствует целевому материалу | |
Аксессуары для регулировки щелевых пластин и системы освещения | комплект | 1 | ||
Система записи и управления | Закрытый пропорциональный детектор | комплект | 1 | Включает соединительный кабель |
Устройство записи и управления | комплект | 1 | ||
Кабель мотора и связи | шт. | 1 | 2 кабеля мотора, 1 кабель связи | |
Блок питания | комплект | 1 | ||
Система ПК | Ноутбук DELL | комплект | 1 | DELL |
Программное обеспечение контроля и применения | Программное обеспечение управления дифрактометром серии AL | комплект | 1 | Windows10 |
Программное обеспечение для обработки данных и применения | комплект | 1 | Jade 6 | |
База данных карты дифракции | комплект | 1 | PDF2 | |
База данных структур кристаллов | комплект | 1 | ICSD | |
Технические документы | Руководство пользователя серии AL XRD | копия | 1 | |
Запасные части | Предохранители 1, 1.5, 2, 2.5, 3, 3+ (A) | шт. | 10 | 10 штук на каждую |
Инструменты | комплект | 1 | ||
Агатная ступка ф100мм | шт. | 1 |
Рентгеновский дифрактометр анализирует природные или синтетические неорганические или органические материалы и широко используется в области глиняных минералов, цемента, строительных материалов, экологической пыли, химической продукции, фармацевтики, асбеста, горных пород, исследований полимеров.
Оптический дизайн на основе геометрии θ-θ облегчает подготовку образцов и установку различных аксессуаров. Применение металлической керамической рентгеновской трубки значительно увеличило рабочую мощность дифрактометра. Закрытый пропорциональный счетчик долговечен и не требует обслуживания.
Детектор с силиконовым дрейфом, с превосходной угловой разрешающей способностью и разрешающей способностью энергии, позволяет увеличить скорость измерения более чем в 3 раза. Разнообразные аксессуары для дифрактометра соответствуют различным аналитическим потребностям. Модульный дизайн, известный как компоненты с возможностью «подключи и работай», позволяет операторам точно использовать соответствующие приспособления дифрактометра без необходимости расчета оптической системы.
Оптическая система конвертера
Структура щели Sola может быть изменена без необходимости разборки корпуса щели Sola. Благодаря этой особенности инструмент может без перенастройки достигнуть конвертера между фокусной оптической системой и горизонтальной оптической системой.
Основные функции обработки данных (поиск пиков, сглаживание, вычитание фона, аппроксимация формы пиков, увеличение формы пиков, сравнение спектров, распознавание K α 1, α 2, индексация дифракционных линий);
Быстрая количественная оценка нестандартных образцов
Измерение размера кристаллов
Анализ кристаллической структуры (измерение и уточнение параметров кристаллической ячейки)
Макроскопические и микроскопические измерения напряжений
Двумерное и трехмерное отображение множественного рисования
Кластерный анализ рисунков дифракционных пиков
Калибровочная кривая полуширины данных дифракции
Калибровочная кривая углового отклонения данных отклонения
Конвенционный количественный анализ на основе Ритвельда
Использование базы данных lCDD или пользовательской базы данных для качественного анализа фаз
Использование базы данных ICDD или ICSD для количественного анализа
Наши Преимущества
Часто задаваемые вопросы