Похожие товары

Характеристики товара

Вес
0-100 кг
Тип
Балансировочная машина
Дисплей
Игла
Гарантия
1 год
Контроль
Компьютерное управление
Модель №.
Код ТН ВЭД
9027500090
Настройка
Доступно
Спецификация
Происхождение
Класс точности
0.5
Метод загрузки
Динамическая нагрузка
Торговая марка
Масса заготовки
<900кг
Источник питания
АС220В
Нагрузочный путь
Электронная нагрузка
Максимальная ёмкость
>1000КН
Транспортная упаковка
Картон
Производственная мощность
100
Послепродажное обслуживание
Положение масляного цилиндра
Под
Подробное описание товара от поставщика

Высококачественный рентгеновский дифрактометр XRD для анализа порошков!

Высококачественный рентгеновский дифрактометр XRD для анализа порошковВысококачественный рентгеновский дифрактометр XRD для анализа порошков

1. Профиль: Устройство предназначено для коммерческих процессов и контроля качества. Это концентрация передовых технологий производства XRD, с многофункциональностью и миниатюризацией. Оно может выполнять качественный анализ, количественный анализ и анализ кристаллической структуры на металлических и неметаллических образцах, особенно в отраслях катализа, диоксида титана, цемента и фармацевтики.

2. Производительность оборудования:

  1. Генератор рентгеновских лучей с высокой частотой и высоким напряжением обеспечивает большую стабильность, гарантируя повторяемость данных.
  2. Гониометр с сервоприводом и оптическим кодировщиком обеспечивает более плавное вращение и большую точность измерения дифракционного угла.
  3. Устройство защиты от рассеянных лучей безопаснее и надежнее. Во время измерения образцов защитная дверь автоматически блокируется, чтобы избежать облучения людей.
  4. CY-7200XRD использует наиболее современные рентгеновские трубки из металлокерамики, обеспечивающие длительный срок службы (3000 часов).
  5. Компактная структура может быть установлена на платформе без специализированной лабораторной среды. Простота в эксплуатации и обслуживании.

Высококачественный рентгеновский дифрактометр XRD для анализа порошков

3. Применение: CY-7200XRD может выполнять качественный и количественный анализ поликристаллических материалов. Во время качественного анализа он идентифицирует неизвестную структуру, сравнивая измеренные данные с известной базой фаз. В ходе количественного анализа он описывает характеристики твердой смеси, что позволяет подтвердить относительное содержание кристаллических соединений или некристаллизованных фаз.

Измерение содержания асбеста в смеси с использованием CY-7200 Высококачественный рентгеновский дифрактометр XRD для анализа порошков

Анализ структуры нуклеотидных аналогов медицинских препаратов с использованием CY-7200 Высококачественный рентгеновский дифрактометр XRD для анализа порошков

4. Параметры:

Параметры обслуживания (напряжение трубки, ток) 600W (40kV, 15mA) Стабильность: 0,005%
Рентгеновская трубка Металлокерамическая рентгеновская трубка, мишень Cu, мощность 2,4 кВт, размер фокуса: 1 x 10 мм;
Гониометр θs-θd, радиус дифракции 150 мм
Метод измерения Непрерывный, шаговый, Омг
Диапазон углового измерения В течение времени утечки, θs/θd -3°~150°.
Минимальная шаговая ширина 0,0001°
Угловая воспроизводимость 0,0001°
Режим привода Привод сервомотора + управление оптическим кодировщиком
Скорость позиционирования угла 1500°/мин
Счетчик Закрытый пропорциональный детектор
Разрешение энергетического спектра <25%
Макс. линейная скорость счетки ≥5×10^5cps (пропорциональный)
Компьютер Ноутбук Dell
Программное обеспечение Управляющее программное обеспечение
Программное обеспечение для обработки данных Качественный и количественный анализ фаз материалов, отбор Kα1, α2, полное спектральное моделирование, подгонка пиков, расчет полуширины и размера зерна, измерение кристаллической ячейки, расчет напряжения второго рода, индексация дифракционных линий, множественное построение графиков, построение графиков в 3D, калибровка данных дифракции, вычитание фона, количественный анализ без стандартов, полное спектральное изображение подгонки (WPF), моделирование дифракционного изображения XRD и т. д.
Защита от рассеянного излучения Защита из свинца + свинцового стекла, затворные окна и взаимосвязь защитных конструкций, излучение от рассеяния не превышает 1μSv/h.
Комплексная регулировка инструмента ≤1‰
Общие размеры 640×530×770 (Ш×Г×В) мм

5. Стандартный список конфигураций CY-7200XRD:

Часть Название элемента Единица Количество Заметка
Генератор рентгеновского высокого напряжения Генератор рентгеновских лучей XRD40*600 высокой частоты комплект 1 Твердое исполнение
Кабель высокого напряжения X27.06 (100kVP) штука 1 Длина: 2,0 метра
Трубная муфта 3311 комплект 1
Стадия X25.02 (металлический корпус) штука 1 Защита из свинца + свинцового стекла
Рентгеновская трубка AS2910/24 из металлокерамики штука 1 Мишень Cu, 2.4кВт
Система гониометра Гониометр AG-3511 комплект 1 Структура θ-θ
Щель и держатель порошковых образцов штука 1 1 комплект для каждой
Образец с дырочками штука 5 Алюминиевый матрица
Образец с закрытыми отверстиями штука 10 Кварцовая матрица
Фильтр штука 1 Подходящий к целевому материалу
Пластина с щелью и аксессуары для регулировки системы освещения комплект 1
Система записи и контроля Закрытый пропорциональный детектор комплект 1 Включает соединительный кабель
Модуль записи и контроля комплект 1
Мотор и коммуникационный кабель штука 1 2 моторных кабеля, 1 коммуникационный кабель
Блок питания комплект 1
Система ПК Ноутбук DELL Business комплект 1 DELL
Программное обеспечение для управления и применения Программное обеспечение управления дифрактометром AL Series Комплект 1 Windows10
Программное обеспечение для обработки данных и приложений комплект 1 Jade 6
База данных карт дифракции комплект 1 PDF2
База данных кристаллической структуры комплект 1 ICSD
Технические документы Руководство пользователя серии AL XRD копия 1
Запасные части Предохранители 1, 1,5, 2, 2,5, 3, 3+(A) штука 10 10 штук для каждого
Инструменты комплект 1
Агатная ступка ф100мм штука 1

Высококачественный рентгеновский дифрактометр XRD для анализа порошковРентгеновский дифрактометр анализирует натуральные или синтетические неорганические или органические материалы, широко используемые в области глиноземов, цемента, строительных материалов, экологической пыли, химических продуктов, фармацевтики, асбеста, горных пород и исследования полимеров.
Оптический дизайн на основе геометрии θ-θ облегчает подготовку образцов и установку различных аксессуаров. Применение рентгеновской трубки из металлокерамики значительно увеличивает мощность работы дифрактометра. Закрытый пропорциональный счетчик надежен и не требует обслуживания.
Детектор на основе кремния с превосходным угловым разрешением и энергетическим разрешением позволяет увеличить скорость измерения более чем в 3 раза. Разнообразные аксессуары для дифрактометра удовлетворяют различные аналитические потребности. Модульный дизайн, известный как компоненты типа "подключай и используй", позволяет операторам точно использовать соответствующие присоединяемые устройства дифрактометра, не прибегая к расчетам оптической системы.

Высококачественный рентгеновский дифрактометр XRD для анализа порошковВысококачественный рентгеновский дифрактометр XRD для анализа порошковВысококачественный рентгеновский дифрактометр XRD для анализа порошковВысококачественный рентгеновский дифрактометр XRD для анализа порошков

Оптический система преобразователя Структуру Sola Slit можно изменять без необходимости разборки корпуса. Благодаря этому инструмент, без необходимости перенастройки, может осуществить преобразование между фокусной оптической системой и горизонтальной оптической системой.

Программное обеспечение для обработки данных включает в себя следующие функции

  • Основные функции обработки данных (поиск пиков, сглаживание, вычитание фона, подгонка формы пиков, увеличение формы пиков, сравнение спектров, отбор Kα1, α2, индексация дифракционных линий);
  • Быстрый количественный анализ нестандартных образцов;
  • Измерение размеров кристаллов;
  • Анализ кристаллической структуры (измерение и уточнение параметров кристаллической ячейки);
  • Макроскопические и микроскопические измерения напряжений;
  • Двухмерное и трехмерное отображение множественной графики;
  • Кластерный анализ графиков пиков дифракции;
  • Калибровка кривой полуширины данных дифракции;
  • Кривая коррекции угловых отклонений отклонений данных;
  • Количественный анализ по методу Ритвелда;
  • Использование базы данных lCDD или пользовательской базы данных для выполнения качественного анализа фаз;
  • Использование базы данных ICDD или базы данных ICSD для выполнения количественного анализа.

Высококачественный рентгеновский дифрактометр XRD для анализа порошков

Наши преимущества

Высококачественный рентгеновский дифрактометр XRD для анализа порошков

Часто задаваемые вопросы

Высококачественный рентгеновский дифрактометр XRD для анализа порошков

Оставить заявку