Похожие товары

Характеристики товара

Вес
0-100 кг
Тип
Балансировочная машина
Дисплей
Игла
Гарантия
1 год
Контроль
Компьютерное управление
Модель №.
Код ТН ВЭД
9027500090
Настройка
Доступно
Спецификация
Происхождение
Класс точности
0.5
Метод загрузки
Динамическая нагрузка
Торговая марка
Масса заготовки
<900кг
Источник питания
АС220В
Нагрузочный путь
Электронная нагрузка
Максимальная ёмкость
>1000КН
Транспортная упаковка
Картон
Производственная мощность
100
Послепродажное обслуживание
Положение масляного цилиндра
Под
Подробное описание товара от поставщика

Анализ дифракции XRD Дифрактометр

Анализ дифракции рентгеновскими лучами XRD Дифрактометр Анализ дифракции рентгеновскими лучами XRD Дифрактометр

1. Профиль: Он предназначен для коммерческого процесса и контроля качества. Это концентрация передовых технологий производства XRD, с многофункциональностью и миниатюризацией. Он может выполнять качественный анализ, количественный анализ и анализ кристаллической структуры на металлических и неметаллических образцах, особенно для катализаторов, диоксида титана, цемента и фармацевтической промышленности.

2. Характеристики оборудования:

  1. Высокочастотный рентгеновский генератор с высокой напряжением обладает большей стабильностью, что гарантирует повторяемость данных.
  2. Гониометр θs, θd использует серводвигатель и технологию управления оптическим энкодером, поэтому гониометр вращается более плавно, измерение дифракционного угла становится более точным, а линейность лучше. В пределах диапазона дифракционного угла, линейность дифракции <0.02.
  3. Устройство защиты от рассеяных лучей безопаснее и надежнее. Во время измерения образцов защитная дверь будет автоматически заблокирована, чтобы избежать радиации для людей.
  4. CY-7200XRD использует самый современный металлический керамический рентгеновский трубку, она имеет долгий срок службы (3000 часов).
  5. Компактная структура может быть установлена на платформу без специальных лабораторных условий. Облегчает эксплуатацию и техобслуживание.

Анализ дифракции рентгеновскими лучами XRD Дифрактометр

3. Применение: CY-7200XRD может выполнять качественный и количественный анализ поликристаллических материалов. Во время качественного анализа он определит неизвестную структуру, сравнивая измеренные данные с известной базой данных фаз. Во время количественного анализа он может описать характеристики твердой смеси, чтобы подтвердить относительное содержание кристаллических соединений или некристаллизованной фазы.

Измерение содержания асбестов в смеси с помощью CY-7200

Анализ дифракции рентгеновскими лучами XRD Дифрактометр

Анализ структуры нуклеотидного аналогового лекарства с помощью CY-7200

Анализ дифракции рентгеновскими лучами XRD Дифрактометр

4. Параметры:

Параметры обслуживания (напряжение трубки, ток трубки) 600W(40kV,15mA) Стабильность: 0.005%
Рентгеновская трубка Металлическая керамическая рентгеновская трубка, Cu мишень, мощность 2.4kW, размер фокуса: 1 x 10 мм;
Гониометр θs-θd, дифракционный радиус 150 мм
Метод измерения Непрерывный, ступенчатый, Омик
Диапазон углового измерения Во время времени утечки, θs/θd от -3° до 150°.
Минимальная ширина шага 0.0001°
Воспроизводимость угла 0.0001°
Режим привода серводвигатель + управление с помощью оптического кодера
Скорость позиционирования угла 1500°/мин
Счетчик Закрытый пропорциональный детектор
Разрешение энергетического спектра <25%
Макс. линейная скорость счета ≥5×10^5 cps (пропорциональный)
Компьютер Ноутбук Dell
Программное обеспечение Контрольное программное обеспечение
Программное обеспечение для обработки данных Качественный и количественный анализ фаз материалов, Kα1,α2 отсечение, полное соответствие спектра, подгонка пиков, расчет ширины половины и размера зерна, измерение кристаллической решетки, расчет напряжений второго рода, индексация дифракционных линий, много plotting, 3D plotting, калибровка данных дифракции, вычитание фона, количественный анализ без стандартов, полное соответствие изображению спектра (WPF), симуляция изображения XRD, и др.
Защита от рассеянного излучения Свинец + свинцовое стекло, защита, окна затвора и связь защитного экрана, уровень рассеянного излучения не превышает 1μSv/h.
Комплексная регулировка прибора ≤1‰
Общие размеры 640×530×770(ширина×глубина×высота)мм

5. Стандартный список конфигураций CY-7200XRD:

Часть Наименование элемента Единица Кол-во Примечание
Рентгеновский генератор высокого напряжения XRD40*600 высокочастотный генератор рентгеновского генератора комплект 1 Технология надежности
X27.06 высоковольтный кабель(100kVP) штука 1 Длина: 2.0 метра
3311 трубная втулка комплект 1
X25.02 платформа (металлическая оболочка) штука 1 Защита свинцом + свинцовое стекло
AS2910/24 Металлическая керамическая рентгеновская трубка штука 1 Cu мишень, 2.4kW
Система гониометра Гониометр AG-3511 комплект 1 θ-θ структура
Щель и держатель порошковых образцов штука 1 1 комплект для каждого
Пластина для образцов с просечками штука 5 Алюминиевый матрица
Пластина для образцов с глухими отверстиями штука 10 Кварцевый матрица
Фильтр штука 1 Соответствует целевому материалу
Аксессуары для настройки щелевой пластины и системы освещения комплект 1
Система записи и контроля Закрытый пропорциональный детектор комплект 1 Включает соединительный кабель
Записывающее и управляющее устройство комплект 1
Кабель питания и связи штука 1 2 кабеля двигателя, 1 кабель связи
Энергетический блок комплект 1
Система ПК Ноутбук DELL Business комплект 1 DELL
Системное управление и прикладное программное обеспечение Программное обеспечение управления дифракторами серии AL комплект 1 Windows10
Программное обеспечение для обработки данных и приложений комплект 1 Jade 6
База данных дифракционных данных комплект 1 PDF2
База данных структур кристаллов комплект 1 ICSD
Технические документы Инструкция пользователя XRD серии AL копия 1
Запчасти Предохранители 1,1.5,2,2.5,3,3+(A) штука 10 10 штук для каждого
Инструменты комплект 1
Апатитный ступка ф100мм штука 1

Анализ дифракции рентгеновскими лучами XRD Дифрактометр

Рентгеновский дифрактометр анализирует натуральные или синтетические неорганические или органические материалы, широко используемые в области глиноземов, цемента, строительных материалов, экологической пыли, химических продуктов, фармацевтики, асбеста, горных пород, полимерных исследований.
Оптический дизайн на основе геометрии θ-θ облегчает подготовку образцов и установку различных аксессуаров. Применение металлической керамической рентгеновской трубки значительно увеличило эксплуатационную мощность дифрактометра. Закрытый пропорциональный счетчик долговечен и не требует обслуживания.
Детектор кремниевой решетки с превосходным угловым разрешением и разрешением энергии позволяет увеличить скорость измерений более чем в 3 раза. Разнообразные аксессуары для дифрактометра соответствуют различным аналитическим потребностям. Модульный дизайн, известный как компоненты «плаг-and-плей», позволяет операторам точно использовать соответствующие приспособления дифрактометра, без необходимости в расчете оптической системы.

Анализ дифракции рентгеновскими лучами XRD Дифрактометр Анализ дифракции рентгеновскими лучами XRD Дифрактометр Анализ дифракции рентгеновскими лучами XRD Дифрактометр Анализ дифракции рентгеновскими лучами XRD Дифрактометр

Оптический конвертер Структура Sola slit может быть изменена без необходимости разборки корпуса Sola slit. Благодаря этой особенности инструмент без необходимости перенастройки может достичь конвертации между фокусным оптическим и горизонтальным оптическим системами.

Программное обеспечение для обработки данных включает следующие функции

  • Основные функции обработки данных (поиск пиков, сглаживание, вычитание фона, подгонка формы пиков, увеличение формы пика, сравнение спектров, K α 1, α 2 отсечение, индексация дифракционных линий);
  • Быстрое количественное определение нестандартных образцов;
  • Измерение размера кристаллов;
  • Анализ кристаллической структуры (измерение и уточнение параметров кристаллической решетки);
  • Измерения макроскопического и микроскопического напряжений;
  • Двухмерное и трехмерное отображение множественных чертежей;
  • Кластерный анализ чертежей дифракционных пиков;
  • Калибровка кривой ширины половины пика данных дифракции;
  • Кривая коррекции углового отклонения данных отклонения;
  • Конвенциональный количественный анализ на основе Rietveld;
  • Используйте базу данных lCDD или пользовательскую базу данных для выполнения качественного анализа фаз;
  • Используйте базу данных ICDD или ICSD для выполнения количественного анализа.

Анализ дифракции рентгеновскими лучами XRD Дифрактометр

Наши преимущества

Анализ дифракции рентгеновскими лучами XRD Дифрактометр

Часто задаваемые вопросы

Анализ дифракции рентгеновскими лучами XRD Дифрактометр

Оставить заявку