GA-EDX9900 PLUS XRF Спектрометр Энергетически Дисперсивной Рентгеновской Флуоресценции

Характеристики товара

Вес

48 кг

Гарантия

1 год

Модель №.

ГА-ЭДХ9900

Код ТН ВЭД

9024800000

Настройка

Доступно

Спецификация

565мм*385мм*415мм

Происхождение

Китай

Торговая марка

ГОНАВА

Источник возбуждения

50 Вт рентгеновская трубка

Транспортная упаковка

Фанерный ящик

Производственная мощность

200

Послепродажное обслуживание

Онлайн

Подробное описание товара от поставщика

GA-EDX9900 PLUS XRF Спектрометр Энергетической Дисперсивной Рентгеновской Флуоресценции
1. Представление продукта
Спектрометр GA-EDX9900 PLUS в основном используется в горнодобывающих операциях (геологоразведка, добыча, контроль качества), промышленной минералогии, сырье для производства цемента и строительных материалов, огнеупорных материалов, керамики и стекла, геохимических академических исследований, археологии и др. Отличный линейный динамический диапазон GA-EDX9900 PLUS обеспечивает ультраточный контроль процессов и контроль качества в цементной, минеральной, горнодобывающей, металлургической, стекольной и керамической отраслях.
Новый детектор Fast SDD последнего поколения с новой вакуумной оптической системой и технологией ультравыского разрешения может обнаруживать легкие, средние и тяжелые элементы, а также обычные оксиды (Na2O, MgO, Al2O3, SiO2, P2O5, SO3, K2O, CaO, TiO2, Cr2O3, MnO, Fe2O3, ZnO и SrO и др.), что позволяет достигать лучших результатов анализа.
Отличные аналитические характеристики GA-EDX9900 PLUS позволяют легко завершить анализ следующих минералов:
Железная руда (магнетит, гематит, ильменит, сидерит и др.), медная руда (халькопирит, куприт, малахит и др.), хромовая руда (спинель хромита, хромит, хром бизмутовой руды и др.), молибденовая руда (молибденит, медный молибденит, вольфрамовая молибденовая руда и др.), вольфрамовая руда (шаролит, вольфрамит, тинтунгстеновая руда и др.), ниобиевая руда (танталит, колумбит и др.), пирохлор и др.), свинцово-цинковая руда (галенит, сфалерит, церусит и др.), никелевая руда (латеритная никелевая руда, медно-никелевое сульфидное руда и др.), боксит и другие минералы.

GA-EDX9900 PLUS XRF Спектрометр Энергетической Дисперсивной Рентгеновской Флуоресценции
2. Характеристики

1. Миниатюризация, высокая производительность, высокая скорость, простота в эксплуатации, высокая чувствительность и высокая точность анализа Nal1-U92
2. Возможность одновременного анализа 40 элементов
3. Использование запатентованной технологии многоколлиматоров, многофильтров и фоновая бугорковая обработка
4. Пельтье электрическое охлаждение детектора FAST SDD обеспечивает отличную краткосрочную повторяемость и долгосрочную воспроизводимость, а также отличное разрешение пиковой интенсивности элементов
5. Ультравысокое цифровое многоканальное проектирование, двойной вакуумный насос, автоматическая стабилизация системы вакуума
6. Программное обеспечение методологии стандартных основных параметров, многозадачность, многооконный режим
7. Запатентованная технология тонкопленочного фильтра, эффективно повышающая предел обнаружения легких элементов

GA-EDX9900 PLUS XRF Спектрометр Энергетической Дисперсивной Рентгеновской Флуоресценции
3. Новая разработанная программа анализа XTEST
Ядро программного обеспечения включает метод базовых параметров (FP) и метод эмпирических коэффициентов (EC), которые могут легко анализировать различные образцы.

• Параметры обработки спектров включают параметры, используемые для определения непрерывности фона, наложение пиков и сложение пиков, сглаживание и количество измеренных фонов спектров
• Полная коррекция для поглощения, а также вторичная флуоресценция толстых и тонких пленок, т.е. все матричные эффекты, усиливающие и поглощающие.
• Отображение спектра: идентификация пиков, маркировка KLM, сравнение наложений спектров, одновременно можно отображать несколько спектров
• Интенсивность фотопика может моделироваться как гауссовская функция путем интегрирования чистой площади пика или использованием измеренной реакции фотопика.
• Количественный анализ может проводиться с использованием исключительно методов основных параметров, с использованием фундаментальных параметров соотношения разброса (для образцов с большим количеством низкоэфирного материала) или простой аппроксимации методом наименьших квадратов.
• Анализ по базовым параметрам может основываться на одном многокомпонентном стандарте, множественных стандартах или образцах без стандартов.

4. Параметры продукта

Спецификации прибора
Размер спектрометра Размер камеры образца Размер вакуумной камеры образца Вес Диапазон элементов Диапазон содержания анализа Детектор DPP анализатор Источник возбуждения Блок высоковольтного источника Питание Окружающая среда
Стандарт
Стандарт калибровки Ag Вакуумный насос Чаша образца USB-кабель Кабель питания Тестовый майлар Калибровочный отчет Гарантийный талон