Ga-Edx 8500 Xrf Анализатор толщины покрытия Тестер покрытия краски Рентгеновский флуоресцентный спектрометр Анализатор растворов для покрытия

Цена в Китае: от 105 000 ₽


Поставщик: Хунаньская компания инструментов Гоноава

GA-EDX 8500 Анализатор толщины покрытия XRF Тестировщик покрытия Краска Рентгеновский флуоресцентный спектрометр Анализатор раствора для покрытия

Тестер аккумуляторов Китайский тестер Анализаторное оборудование Анализатор спектра Спектрометрический анализатор Световой спектрометр Оптический спектрометр Флуоресцентный анализатор Атомный спектрометр

Похожие товары

Характеристики товара

Вес
0-100 кг
Гарантия
1 год
Модель №.
Код ТН ВЭД
9024800000
Настройка
Доступно
Спецификация
Происхождение
Китай
Торговая марка
Транспортная упаковка
Производственная мощность
200
Послепродажное обслуживание
Подробное описание товара от поставщика

GA-EDX 8500 Анализатор толщины покрытия XRF Тестировщик покрытия Краска Рентгеновский флуоресцентный спектрометр Анализатор раствора для покрытия
Введение
Для борьбы с коррозией были предприняты различные меры, среди которых электролиз является одним из важных методов. Электролиз может улучшить коррозионную стойкость металлических деталей в рабочей среде. Он придаёт частям привлекательный внешний вид и делает их яркими и красивыми; улучшает
Рабочие характеристики деталей, такие как твердость, стойкость к износу, электрическая проводимость, электромагнетизм, термостойкость, пайка и другие специальные свойства.
GA-EDX 8500 прибор для измерения толщины покрытия специально разработан для анализа состава покрытия и определения толщины покрытия.
Его основные преимущества:
1. Быстрая скорость тестирования
Время тестирования короткое и может быть завершено за считанные секунды. За короткий период времени можно протестировать множество образцов.
2. Хорошая воспроизводимость тестов:
Тестирование не будет одинаковым для разных людей. Результаты анализа различий в методах получения образцов отличаются, в отличие от мокрого химического анализа, который более подвержен влиянию факторов предварительной обработки.
3. Одновременный анализ нескольких элементов
Одновременное обнаружение всех элементов в растворе для покрытия. Есть металлические компоненты, ограничения на обнаружение элементов отсутствуют.
4. Неконтролируемое тестирование
Если в образце есть ценные компоненты, их можно восстановить после завершения теста.
5. Отсутствие сложной предварительной подготовки образцов
Не требуется профессиональная лаборатория и оператор, а также сложная предварительная подготовка.
6. Эластичность концентрации обнаружения
Стандартный раствор можно гибко настраивать в зависимости от концентрации тестируемого раствора, нет фиксированных требований к концентрации.

Просто лучшее

  1. Вертикальная оптическая схема, разработанная для анализа толщины покрытия
  2. Высокое разрешение детектора кремниевой иглы (Si-pin), подходит для высокочувствительного анализа многокомпонентных покрытий. В сравнении с традиционными запечатанными газовыми пропорциональными счетчиками, детектор Si-pin имеет лучшее разрешение, более низкий уровень фона (максимальное соотношение сигнал/шум), долгую стабильность и срок службы
  3. Промышленная HD система наблюдения за образцами, функция точного измерения помогает повысить точность измерения
  4. Легкость использования, новый интерфейс пользователя разработан для пользователей, не являющихся экспертами в области XRF. Интуитивно понятный и незагроможденный, правильный анализ всего в одном клике

GA-EDX 8500 Анализатор толщины покрытия XRF Тестировщик покрытия Краска Рентгеновский флуоресцентный спектрометр Анализатор раствора для покрытия
Сценарий применения

  1. Измеряемые объекты включают покрытия, покрытия, наложения, покрытия, химически образованные пленки и т. д.
  2. Может измерять толщину различных металлических покрытий, таких как ионное покрытие, электроосаждение, испарительное покрытие и т. д.
  3. Хромовое покрытие, такое как пластиковые изделия с декоративным хромовым покрытием
  4. Антикоррозийное покрытие, такое как цинк на стали
  5. Анализ композиции благородных металлов, покрытие благородным металлом, например, анализ материала родия на золотой основе
  6. Анализ покрытий из твердых материалов, таких как CrN, TiN или TiCN
  7. Можно расширить и увеличить функцию анализа вредных элементов RoHS, анализ концентрации ионов в растворе для электроосаждения

Характеристики продукта

  1. Просторная камера образцов
  2. Одно нажатие для тестирования, одно нажатие для печати отчета
  3. Бесшовная интеграция с другим программным обеспечением, что облегчает экспорт данных, совместимость с базами данных LIMS
  4. Устойчивость, долгий срок службы в сложных производственных или лабораторных условиях

Общие материалы покрытия, которые могут быть проанализированы
Можно тестировать толщину и содержание многослойных, неметаллических, легких металлов, многослойных многокомпонентных покровов и органических слоев.
Приложение для одного покрытия:
Например, он может обнаруживать толщину и элементный состав таких одиночных покрытий, как никелевое покрытие из железа, никелевое покрытие из меди, хромовое покрытие из железа, оловянное покрытие из меди, золотое покрытие из меди, серебряное покрытие из меди.
Приложение для многопокрытий:
Такие как Ni/Cu/Fe никелевое покрытие из железа и меди, Au/Ni/Cu золотое покрытие из меди и никеля, Sn/Ni/Cu оловянное покрытие из меди и никеля и т. д.
Приложение для легированных покрытий:
Такие как ZnNi/Fe никелевое покрытие из железа, ZnAl/Ni/Cu медное покрытие из алюминия, никелевое покрытие из цинкового сплава и т. д.

GA-EDX 8500 Анализатор толщины покрытия XRF Тестировщик покрытия Краска Рентгеновский флуоресцентный спектрометр Анализатор раствора для покрытия
Спефикации | Внешние размеры прибора | 400mm*500mm*350mm | |---|---| | Вес прибора | 34Kg | | Диапазон анализа покрытия | Литий Li (3) - Уран U (92) | | Диапазон анализа компонентов | Сера S (16) - Уран U (92) | | Диапазон анализируемого содержания | 1 PPM - 99.99% | | Минимальный предел обнаружения покрытия | 0.005μm, можно одновременно анализировать более 5 слоев покрытия | | Диапазон содержания для анализа компонентов | 5 PPM - 99.99% | | Детектор | Детектор Si-Pin с высоким разрешением и бериллиевым окном | | Многоканальный анализатор | 4096 DPP анализатор | | Рентгеновская трубка | 50W высокомощная оптическая трубка | | Коллиматор | Стандартный 0.5mm, по запросу 0.2mm | | Оптический фильтр | 3 типа можно переключать | | Опционально | Стандартный образец из чистого элемента, лист калибровки покрытия | | Напряжение | 220ACV 50/60HZ | | Температура окружающей среды | -10°C до 35°C |

Ga-Edx 8500 Xrf Анализатор толщины покрытияGa-Edx 8500 Xrf Анализатор толщины покрытияGa-Edx 8500 Xrf Анализатор толщины покрытияGa-Edx 8500 Xrf Анализатор толщины покрытияGa-Edx 8500 Xrf Анализатор толщины покрытияGa-Edx 8500 Xrf Анализатор толщины покрытияGa-Edx 8500 Xrf Анализатор толщины покрытия

Оставить заявку