Открытый индуктивно связанный плазменно-импульсный масс-спектрометр ICP MS спектрометр для металлических элементов

Характеристики товара

Принцип

Новый спектрометр

Решение

0,6 ~ 0,8 а. е. м.

Старший

≥50 × 10^6

Модель №.

ICP-MS-2000

Настройка

Доступно

Длины волн

Видимый спектрометр

Приложение

Лабораторное оборудование

Номер света

Монохроматор

Фоновый шум

≤2 Сps (Полный диапазон масс)

Настроенный

Настроенный

Преимущество

Высокая чувствительность

Сертификация

ИСО 9001

Спецификация

контакт

Оксидные ионы

Генеральный директор + / ГЭ + ≤3%

Происхождение

Китай

Торговая марка

Дравелл

Стабильность Rsd

Краткосрочный ≤3%; Долгосрочный ≤4%

Чувствительность

Б≥2 × 10^6; ин≥35 × 10^6; U≥

Метод обнаружения

Спектрофотометр

Предел обнаружения

Be≤10; в ≤2; U≤2 Единицы (Нг / л)

Дисперсионный элемент

Рефлекторный спектрометр

Транспортная упаковка

контакт

Стабильность оси массы

≤0.05 атомных единиц массы / 24 ч

Измерительный диапазон

≥108

Производственная мощность

200 штук / месяц

Послепродажное обслуживание

Онлайн техническая поддержка

Качество Количество Диапазон

2 ~ 255 АМу

Подробное описание товара от поставщика

Описание продукта

ICP-MS-2000 Индукторно-свойственный плазменный масс-спектрометр

Введение
Индукторно-свойственный плазменный масс-спектрометр (сокращенно ICP-MS), разработанный в 1980-х годах, представляет собой новую технологию микро (10-6), следового (10-9) и ультра-следового (10-12) элементного анализа. Большинство элементов периодической таблицы может быть определено, имея очень низкий предел обнаружения, широкий динамический диапазон, простые линии, меньше помех, высокую точность, быструю скорость и возможность предоставить изотопный анализ.
Этот продукт является первым отечественным индустриальным индукторно-свойственным плазменным масс-спектрометром, производительность которого соответствует национальному стандарту и удовлетворяет потребности пользователей, обеспечивая соотношение цена-качество; продукты в основном используются в области экологии, пищевой промышленности, полупроводников, медицины и физиологического анализа, ядерной промышленности.

Особенности
Система инжекции: архитектура открытой системы инжекции, использование внешне установленного небулайзера, самоцентрирование, без регулировки.
Система регулировки положения горелки: полный компьютерный контроль по осям x, y, z для точного трехмерного позиционирования горелки, все параметры регулировки сохраняются в анализе. Технология защиты плазмы: значительно улучшает чувствительность, улучшает предел обнаружения для низкокачественных элементов до уровня ppt.
Системы активных клапанов: управление компьютером, защита оборудования от вакуума, простота разборки и очистки в системе вакуума для образцов и скиммерных конусов.
Система ионных линз: с высокоэффективной шестиэлектродной ионной системой, передача ионов с максимальной эффективностью в процессе автоматической настройки фокусировки ионов, камера вакуума линз использует асимметричное расположение, простота разборки и позиционирования.
Детектор: двухрежимный детектор ETP без цифрового/аналогового переключателя.
Новая структура вакуумной камеры: камера без каких-либо проводов, каждый компонент асимметрично установлен и устанавливается в разъемном варианте.
Системы защиты от перепадов напряжения: при возникновении аварии в случае отключения электроэнергии оборудование автоматически отключается без повреждения системы прибора.
Программное обеспечение: обеспечивает автоматическое управление приборами и их аксессуарами, программное обеспечение охватывает разнообразные аналитические методы, включая специальные методы определения соотношений изотопов и методы изотопного разбавления.

Технические параметры
Качественный диапазон количеств: 2 ~ 255 а.м.
Измерительный диапазон: ≥10^8
Чувствительность: Be≥2 × 10^6; In≥35 × 10^6; U≥30 × 10^6 единиц (cps / мг / л)
Предел обнаружения: Be≤10; In ≤2; U≤2 единиц (нг / л)
Разрешающая способность: 0.6 ~ 0.8 а.м.
Отношение сигнал/шум: ≥50 × 10^6
Фоновый шум: ≤2 cps (по всему диапазону масс)
Стабильность масс-оси: ≤0.05 а.м. / 24 ч
Стабильность RSD: краткосрочная ≤3%; долгосрочная ≤4%
Оксидные ионы: CeO + / Ce + ≤3%
Двухвалентные ионы: 69Ba2 + / 138Ba + ≤3%
Соотношение изотопов: (107Ag / 109Ag) ≤0.3%
Чувствительность к изобилию: ≤1 × 10^(-6) для низкокачественного конца; ≤5 × 10^(-7) для высокомассового.

Профиль компании