Цена в Китае: от 283 500 ₽
Поставщик: СКЗ Интернешнл Ко., Лтд
SKZ120A Высококачественная Пленка для Измерения Прозрачности и Мутности для Испытательного Устройства Метров-Мутности
Тестирующая машина Испытательное оборудование Оптическая линза Оптический инструмент Анализатор образцов Универсальный испытательный инструмент Пластинчатый оптический инструмент Цифровой измерительный прибор Цифровое тестовое измерение
SKZ120A Высококачественная Пленка для Измерения Прозрачности и Мутности для Испытательного Устройства Метров-Мутности
Мы предлагаем высококачественную машину для измерения мутности и испытатель мутности с высокой точностью, проводя измерение мутности для вашего наилучшего выбора.
Предназначена для измерения мутности и прозрачности пластиковых листов, пленок, стекол, ЖК-экранов, сенсорных экранов и других прозрачных и полупрозрачных материалов. Наш метр мутности не требует предварительного разогрева во время теста, что экономит время клиента. Прибор соответствует стандартам ISO, ASTM, JIS, DIN и другим международным стандартам для удовлетворения всех требований измерений клиентов.
Стандарты:
ASTM D 1003, ISO 13468, ISO 14782, JIS K 7361 и JIS K 7136.
Особенности:
1). Три типа источников света A, C и D65 для измерения мутности и общей прозрачности.
2). Возможность измерения с компенсацией прозрачности, что обеспечивает более точные результаты тестирования.
3). Открытая измерительная область, без ограничений по размеру образца.
4). Прибор оборудован 5-дюймовым TFT дисплеем с хорошим интерфейсом человек-компьютер.
5). Возможность горизонтального и вертикального измерения для разных типов материалов.
6). Использование светодиодного источника света с продолжительностью жизни до 10 лет.
7). Нет необходимости в предварительном разогреве, после калибровки прибор готов к использованию. Время измерения всего 3 секунды.
Технические параметры:
Источник Света | CIE-A, CIE-C, CIE-D65 |
---|---|
Стандарты | ASTM D1003/D1044, ISO13468/ISO14782, JIS K 7361/ JIS K 7136, GB/T 2410-08 |
Параметры | МУТНОСТЬ, Прозрачность (T) |
Спектральный Ответ | Функция яркости CIE Y/V (λ) |
Геометрия | 0/d |
Размер Измерительной Области/Размер Диафрагмы | 16.5мм/21мм |
Диапазон Измерений | 0-100% |
Разрешение Мутности | 0.01 |
Повторяемость Мутности | ≤0.1 |
Размер Образца | Толщина ≤145мм |
Память | 20000 значений |
Интерфейс | USB |
Питание | DC24V |
Рабочая Температура | 10-40 ºC (+50 - 104 °F) |
Температура Хранения | -20-50ºC (+32 - 122 °F) |
Размер (ДxШxВ) | 310мм X 215мм X 540мм |
Стандартные Аксессуары | Бесплатное программное обеспечение для ПК (Haze QC), одна единица стандартной пластины мутности |
Опционально | Установки |