Лабораторный инструмент анализатора порона Xrd, машина Xrd, дифрактометр Xrd для исследований материалов

Характеристики товара

Принцип

Модель №.

Настройка

Доступно

Приложение

Настроенный

Неконфигурируемый

Преимущество

Сертификация

Происхождение

Китай

Торговая марка

Метод обнаружения

Транспортная упаковка

Стандартный пакет

Производственная мощность

Послепродажное обслуживание

Подробное описание товара от поставщика

DW-XRD-Y3000 Модель рентгеновского дифрактометра

Описание продукта

Серия Y3000 предназначена для исследовательских работ с материалами и анализа промышленных продуктов. Она является идеальным сочетанием традиционного анализа и специализированных измерительных продуктов.

• Идеальное сочетание аппаратных и программных систем отвечает потребностям ученых и исследователей в различных прикладных областях.

• Высокоточный механизм измерения угла дифракции обеспечивает более точные результаты.
• Высокая стабильность системы управления рентгеновским генератором обеспечивает более стабильную повторяемость точности.
• Программируемая операция, интегрированная структура, простота в использовании, элегантный внешний вид.

Рентгеновская дифракция (XRD) — универсальный инструмент для раскрытия кристаллической структуры и химической информации:

• Определение неизвестных образцов на основе фазового анализа
• Количественный фазовый анализ смешанных образцов с известными компонентами
• Анализ кристаллической структуры
• Изменения кристаллической структуры в нестандартных условиях (высокая температура, низкая температура)

• Анализ поверхностной пленки материала
• Анализ текстуры и напряжений в металлических материалах

Технические параметры | | |---| | Номинальная мощность | 3кВт | | Напряжение на трубке | 10-60кВ | | Ток на трубке | 5-80мА | | Рентгеновская трубка | стеклянная трубка, керамическая трубка, рифленая керамическая трубка: Cu, Fe, Co, Cr, Mo и др., мощность 2кВт | | Размер фокуса | 1 x 10мм или 0.4 x 14мм или 2 x 12мм | | Стабильность | ≤0.01% | | Структура гониометра | горизонтальная (θ-2θ) | | Радиус дифракции | 185мм | | Диапазон сканирования | 0-164 | | Скорость сканирования | 0.0012° - 70° мин | | Макс. скорость вращения | 100° /мин | | Способ сканирования | связь θ-2θ, одиночные действия θ, 2θ; непрерывное или пошаговое сканирование | | Повторяемость угла | 1/1000° | | Минимальный шаг угла | 1/1000° | | Датчик | пропорциональные счетчики (PC) или сцинтилляционные счетчики (SC) | | Скорость подсчета линейности | 5 x 10^5 CPS (с функцией компенсации пропусков) | | Энергетическое разрешение | ≤25% (PC), ≤50% (SC) | | Способ подсчета | дифференциальный коэффициент или интеграл, автоматический PHA, регулировка времени мертвого времени | | Стабильность системы измерения | ≤0.01% | | Доза рассеянных лучей | ≤1 μ Sv/h (без защитного устройства от рентгеновского излучения) | | Интеграционная стабильность инструмента | ≤0.5% | | Размеры устройства | 1100 x 850 x 1750мм |

Детализированные фотографии